佛山电镀层微观分析,扫描电镜测试(SEM+EDS)

佛山电镀层微观分析,扫描电镜测试(SEM+EDS)，佛山第三方检测单位

微观成分分析

检测目的

  检测微小区域内的成分

检测范围

  基体组织、腐蚀产物、涂镀层、污染物及其它微区域或微颗粒

检测目的

  以扫描电镜为观察基础，借助电子探针（EPMA）、能谱（EDS）等辅助设备对样品的微观区域进行成分分析，主要用于腐蚀产物的类型及分布、基体中的主元素以及分布情况、涂镀层的成分与分布对应等检测。

测试标准

  扫描电镜+电子探针（EPMA）或能谱（EDS）

试验图片

扫描电镜原理：

如果入射电子撞击样品表面原子的外层电子，把它激发出来，就形成低能量的二次电子，在电厂的作用下它可呈曲线运动，翻越障碍进入检测器，使表面凹凸的各个部分都能清晰成像。二次电子的强度主要与样品表面形貌有关。二次电子和背景散射电子共同用于扫描电镜的成像。当探针很细，分辨率高时，基本收集的是二次电子二背景电子很少，称为二次电子成像（SEI）。

二，结构：

有3个部分组成：真空系统，电子束系统，成像系统。

a,真空系统

真空系统主要包括真空泵和真空柱两部分。

真空柱是一个密封的柱形容器。

真空泵用来在真空柱内产生真空。

电子束系统中的灯丝在普通大气中会迅速氧化而失效，所以在使用SEM时需要用真空，或以纯氮气或惰性气体充满整个真空柱。为了增大电子的平均自由程，从而使得用于成像的电子更多。

b,电子束系统

电子束系统由电子和电磁透镜两部分组成，主要用于产生一束能量分布极窄的，电子能量确定的电子束用以扫描成像。

c，成像系统

成像系统和电子束系统均内置在真空柱种。真空柱底端用于放置样品。

三，参数：

a,分辨率

SEM的分辨率主要受到电子束直径的限制，这里电子束直径指的是聚焦后扫描在样品上的照射点的尺寸。对同样品距的二个颗粒，电子束直径越小，越得到好的分辨效果，电子束直径越小，信噪比越小。

b,放大倍数

在显像管中电子束在荧光屏上较大扫描距离和在镜筒中电子束针在试样上较大扫描距离的比值

c,焦深

SEM的焦深是较好光学显微镜的300-600倍。焦深大意味着能使不平整性大的表面上下都能聚焦。

d,工作距离

从物镜到样品点的垂直距离。

如果增加工作距离，可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。

如果减少工作距离，则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。

通常使用的工作距离在5mm-10mm之间。

e,作用体积

电子束不仅仅与样品表面原子发生作用，它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用，所以存在一个作用“体积”。作用体积的厚度因信号的不同而不同。

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